序言

高比容、小型化和高可靠性的高性能电容器，是新一代电子元器件产业的核心，在我国高速发展的航空航天、电子信息、智能电网以及国防军工等高新技术领域具有广泛的战略需求。长期以来，先进电介质陶瓷材料及高端器件被美、欧、日、韩等发达国家企业所垄断，实现具有我国自主知识产权的高端电容器件具有非常重要的战略意义。但电介质材料中极化、损耗、介电强度存在强关联耦合，如何解耦这些关联参数，厘清材料微观结构和宏观性能的耦合关系及物理机制，是实现电介质陶瓷性能突破的关键。

林元华教授及其团队20余年来一直从事高性能电介质陶瓷材料的理论设计、研究开发与产业应用，在高储能电容器、X7R/X8R温度稳定型介质陶瓷、巨介电芯片电容、高介电常数近零温度系数介质陶瓷等方面均取得了突出成果。发展了铁电陶瓷的畴工程设计，提出了调制电介质性能的熵工程策略，引领了该领域的研究热潮。相关成果荣获国家自然科学奖二等奖和多项省部级奖项，在国内外具有很强的影响力。

本书论述全面、条理清晰，内容从电介质的基本理论出发，介绍了几种主流的调制策略，并阐述了多个相关应用领域的发展现状。本书体现了作者团队近年来最新的科研成果和理论认识，是一本兼具理论性与实用性、内容新颖、重点突出的学术著作。同时，本书不仅可作为从事电介质陶瓷材料研究专业研究人员的重要参考书籍，亦可作为本科生和研究生相关课程的专业教材。

中国科学院院士

2024年12月